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吉時(shí)利keithley擴(kuò)充開關(guān)系統(tǒng)
日期：2012-11-30瀏覽：2545次
吉時(shí)利keithley擴(kuò)充開關(guān)系統(tǒng)，提供業(yè)內(nèi)zui高密度而小尺寸的開關(guān)系統(tǒng)綜合了通道數(shù)很多、高密度而低成本的開關(guān)應(yīng)用
美國(guó)俄亥俄州克里夫蘭市近日?qǐng)?bào)導(dǎo) -- 吉時(shí)利 （Keithley）儀器公司 （NYSE: KEI）是為不斷增長(zhǎng)的測(cè)量需求提供解決方案的，zui近推出了7002-HD型高密度雙插槽開關(guān)主機(jī)及控制卡，可為客戶提供儀表級(jí)的多路切換開關(guān)，而 價(jià)格比同類產(chǎn)品低?40%。7002-HD型開關(guān)支持高達(dá)384個(gè)矩陣節(jié)點(diǎn)或單機(jī)（2U高，3.5”或 88.9mm）320路多路轉(zhuǎn)換開關(guān)，為測(cè)試測(cè)量行業(yè)提供zui高密度的小尺寸開關(guān)系統(tǒng)。如果7002-HD型開關(guān)系統(tǒng)與吉時(shí)利數(shù)字源表 （SourceMeter®）、數(shù)字多用表（DMM）或其它儀器配合使用，就可為通道數(shù)很多的應(yīng)用建立一個(gè)成本極其低廉的測(cè)試系統(tǒng)。
7002-HD-MUX1型和7002-HD-MTX1型開關(guān)卡是兩種新型的高密度開關(guān)卡，作為7002-HD型開關(guān)系統(tǒng)的插件插入主機(jī)內(nèi)。7002- HD-MUX1為差分式（雙刀）四組 1×40多路選通卡，每塊卡可提供總共160路開關(guān)通道。該開關(guān)卡可通過軟件編程為四個(gè)獨(dú)立的1×40多路開關(guān)、兩個(gè)1×80的多路開關(guān)、或者一個(gè)1× 160的多路開關(guān)結(jié)構(gòu)。7002-HD-MTX1型開關(guān)卡為差分式（雙刀）6×32矩陣開關(guān)卡，可提供總共192個(gè)矩陣節(jié)點(diǎn)。兩種控制卡都配備有背板隔離 繼電器，允許用戶在7002-HD主機(jī)內(nèi)部連接兩塊開關(guān)卡。這允許用戶創(chuàng)建單機(jī)320通道的多路轉(zhuǎn)換開關(guān)（雙刀）系統(tǒng)或6×64矩陣轉(zhuǎn)換開關(guān)（雙刀）系 統(tǒng)。每塊控制卡都具有200VDC和1A信號(hào)處理能力，信號(hào)處理能力比以往常用的高密度開關(guān)卡要高很多。
7002-HD型主機(jī)和開關(guān)卡組成的開關(guān)系統(tǒng)適合于精密電子測(cè)試和半導(dǎo)體測(cè)試中要求高密度開關(guān)的各種應(yīng)用，其中，這些精密電子和半導(dǎo)體應(yīng)用包括多路電子元器件測(cè)試、晶圓（Wafer）或封裝階段器件的I-V測(cè)試、OLED陣列測(cè)試，以及老化或加速壽命周期測(cè)試等。
雙插槽的7002-HD型主機(jī)是Keithley公司的7000系列開關(guān)主機(jī)設(shè)計(jì)的擴(kuò)展。對(duì)于Keithley公司7001型或7002型開關(guān)的當(dāng)前 用戶來說，新主機(jī)的代碼兼容性將使系統(tǒng)設(shè)定和程序設(shè)計(jì)的復(fù)雜性降到zui小。用戶既可通過前面板控制也可通過IEEE-488 （GPIB）總線控制7002-HD型開關(guān)和編程。當(dāng)構(gòu)建大矩陣或更多路轉(zhuǎn)換開關(guān)結(jié)構(gòu)時(shí)，模擬的背板可用于在開關(guān)卡之間直接建立連線，無需另外布線，并具 有更大的配置靈活性和更好的信號(hào)完整性。
7002-HD型開關(guān)具有非易失性存儲(chǔ)器，甚至斷電后仍可存儲(chǔ)和再調(diào)用繼電器的設(shè)置。該開關(guān)可以儲(chǔ)存和調(diào)用高達(dá)500組開關(guān)狀態(tài)組合，可作為掃描列表的一部分順序使用。
7002-HD型開關(guān)含有Trigger Link接口。事實(shí)上，吉時(shí)利公司的儀器和主機(jī)都含有的Trigger Link高速觸發(fā)器總線，可在不同類型的儀器之間提供簡(jiǎn)潔的相互觸發(fā)。在一根Trigger link電纜上提供6個(gè)獨(dú)立的硬件觸發(fā)控制，消除了掃描時(shí)的GPIB通信延遲，提高了整個(gè)系統(tǒng)的速度與產(chǎn)能。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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